• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzado
  • Физико-химические методы иссле...
  • Citar
  • Text this
  • Enviar este rexistro por email
  • Imprimir
  • Exportar rexistro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Permanent link
Exportación Completada — 
Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]

Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности
Outros autores: Сахаров Б. А. (редактор)
Idioma:ruso
Publicado: Москва, Металлургия, 1973
Series:Научные труды Гиредмета Т. 46
Subjects:
Полупроводники > Физико-химические исследования
монокристаллы
структура
дефекты
формирование
качество
инфракрасная спектроскопия
кинетика
зонная плавка
электрохимическая полировка
Formato: MixedMaterials Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=677151
  • Existencias
  • Descripción
  • Títulos similares
  • Staff View

Títulos similares

  • Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]
    Publicado: (Москва, Металлургия, 1966)
  • Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]
    Publicado: (Москва, Металлургия, 1974)
  • Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]
    Publicado: (Москва, Металлургия, 1971)
  • Физико-химические методы исследования полупроводниковых материалов: [сборник]
    Publicado: (Москва, Металлургия, 1969)
  • Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors
    por: Mikla V. I. Victor
    Publicado: (Amsterdam, Elsevier, 2010)