Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Bosikov I. I. Igor Ivanovich, Martyushev N. V. Nikita Vladimirovich, Klyuev R. V. Roman Vladimirovich, Tynchenko V. S. Vadim Sergeevich, Kukartsev V. A. Viktor Alekseevich, . . . Karlina A. I. Antonina Igorevna. (2023). Complex Assessment of X-ray Diffraction in Crystals with Face-Centered Silicon Carbide Lattice; Crystals; Vol. 13, iss. 3. 2023. https://doi.org/10.3390/cryst13030528
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Bosikov I. I. Igor Ivanovich, Martyushev N. V. Nikita Vladimirovich, Klyuev R. V. Roman Vladimirovich, Tynchenko V. S. Vadim Sergeevich, Kukartsev V. A. Viktor Alekseevich, Eremeeva S. V. Svetlana Vladimirovna, и Karlina A. I. Antonina Igorevna. Complex Assessment of X-ray Diffraction in Crystals with Face-Centered Silicon Carbide Lattice; Crystals; Vol. 13, Iss. 3. 2023, 2023. https://doi.org/10.3390/cryst13030528.
Цитирование MLA (9-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, et al. Complex Assessment of X-ray Diffraction in Crystals with Face-Centered Silicon Carbide Lattice; Crystals; Vol. 13, Iss. 3. 2023, 2023. https://doi.org/10.3390/cryst13030528.