Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Moskovchenko A. I. Aleksey Igorevich, Svantner M. Michal, Vavilov V. P. Vladimir Platonovich, & Chulkov A. O. Arseniy Olegovich. (2022). Analyzing probability of detection as a function of defect size and depth in pulsed IR thermography. 2022. https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2022.102673
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Moskovchenko A. I. Aleksey Igorevich, Svantner M. Michal, Vavilov V. P. Vladimir Platonovich, and Chulkov A. O. Arseniy Olegovich. Analyzing Probability of Detection as a Function of Defect Size and Depth in Pulsed IR Thermography. 2022, 2022. https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2022.102673.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", et al. Analyzing Probability of Detection as a Function of Defect Size and Depth in Pulsed IR Thermography. 2022, 2022. https://doi.org/10.1016/j.ndteint.2022.102673.