Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Sovetnikov T. O. Timofei Olegovich, Akhmetova A. I. Assel Iosifovna, Gukasov V. M. Vadim Mikhaylovich, Evtushenko G. S. Gennady Sergeevich, Rybakov Yu. L. Yury Leonidovich, & Yaminskii I. V. (2023). Scanning Probe Microscopy in Assessing Blood Cells Roughness. 2023. https://doi.org/10.1007/s10527-023-10253-3
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Sovetnikov T. O. Timofei Olegovich, Akhmetova A. I. Assel Iosifovna, Gukasov V. M. Vadim Mikhaylovich, Evtushenko G. S. Gennady Sergeevich, Rybakov Yu. L. Yury Leonidovich, und Yaminskii I. V. Scanning Probe Microscopy in Assessing Blood Cells Roughness. 2023, 2023. https://doi.org/10.1007/s10527-023-10253-3.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, et al. Scanning Probe Microscopy in Assessing Blood Cells Roughness. 2023, 2023. https://doi.org/10.1007/s10527-023-10253-3.