Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий", Konusov F. V. Fedor Valerievich, Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich, Lauk A. L. Aleksandr Lukyanovich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, . . . Gadirov R. M. Ruslan Mukhamedzhanovich. (2022). Effect of the Content of Silicon on the Optical Properties of Al-Si-N Coatings Irradiated with Carbon Ions in the Short-Pulse Implantation Mode; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 16, iss. 5. 2022. https://doi.org/10.1134/S1027451022050081
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, электроразрядных и плазменных технологий" Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, Konusov F. V. Fedor Valerievich, Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich, Lauk A. L. Aleksandr Lukyanovich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, Remnev G. E. Gennady Efimovich, и Gadirov R. M. Ruslan Mukhamedzhanovich. Effect of the Content of Silicon on the Optical Properties of Al-Si-N Coatings Irradiated with Carbon Ions in the Short-Pulse Implantation Mode; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 16, Iss. 5. 2022, 2022. https://doi.org/10.1134/S1027451022050081.
Цитирование MLA (9-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Effect of the Content of Silicon on the Optical Properties of Al-Si-N Coatings Irradiated with Carbon Ions in the Short-Pulse Implantation Mode; Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques; Vol. 16, Iss. 5. 2022, 2022. https://doi.org/10.1134/S1027451022050081.