Algorithm for Evaluating Errors in Recognition of Materials in X-Ray Testing System Containing X-Ray Sandwich Detectors

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:Russian Journal of Nondestructive Testing
Vol. 58, iss. 1.— 2022.— [P. 46-56]
Κύριος συγγραφέας: Udod V. A. Viktor Anatolievich
Συλλογικό Έργο: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики
Άλλοι συγγραφείς: Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Nazarenko S. Yu. Svetlana Yurjevna
Περίληψη:Title screen
We describe our proposed algorithm for statistical estimation of the error of the dual energy method due to the quantum nature of radiation as applied to an X-ray inspection system containing sandwich detectors. Its action is demonstrated using a specific example. Recommendations are given for the further use of the algorithm, in particular, for optimizing the structural elements of radiation sandwich detectors.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Έκδοση: 2022
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://doi.org/10.1134/S1061830922010065
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=668495

Παρόμοια τεκμήρια