Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга, Voronin A. S. Anton Sergeevich, Fadeev Yu. V. Yurii, Makeev M. O. Mstislav Olegovich, Mikhalev P. A. Pavel Alekseevich, Osipkov A. S. Alexey Sergeevich, . . . Bainov D. D. Dashi Dambaevich. (2022). Low Cost Embedded Copper Mesh Based on Cracked Template for Highly Durability Transparent EMI Shielding Films; Materials; Vol. 15, iss. 4. 2022. https://doi.org/10.3390/ma15041449
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга, et al. Low Cost Embedded Copper Mesh Based on Cracked Template for Highly Durability Transparent EMI Shielding Films; Materials; Vol. 15, Iss. 4. 2022, 2022. https://doi.org/10.3390/ma15041449.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научно-образовательный центр Б. П. Вейнберга, et al. Low Cost Embedded Copper Mesh Based on Cracked Template for Highly Durability Transparent EMI Shielding Films; Materials; Vol. 15, Iss. 4. 2022, 2022. https://doi.org/10.3390/ma15041449.