Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, & Osipov O. S. Oleg Sergeevich. (2021). Simulation Model for Studying Object Structure Using Method of Layer-by-Layer Digital Compton Radiography; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 57, iss. 10. 2021. https://doi.org/10.1134/S1061830921100065
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, and Osipov O. S. Oleg Sergeevich. Simulation Model for Studying Object Structure Using Method of Layer-by-Layer Digital Compton Radiography; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 57, Iss. 10. 2021, 2021. https://doi.org/10.1134/S1061830921100065.
ציטוט MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, et al. Simulation Model for Studying Object Structure Using Method of Layer-by-Layer Digital Compton Radiography; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 57, Iss. 10. 2021, 2021. https://doi.org/10.1134/S1061830921100065.