Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов, электронный курс
| Main Author: | |
|---|---|
| Corporate Author: | |
| Summary: | Заглавие с экрана Курс «Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов» посвящен изучение физических основ сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены наиболее применяемые виды СЗМ, такие как сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ). Особое внимание уделяется изучению устройства сканирующего зондового микроскопа и основным методикам работы на нем. Знания, полученные при изучении курса, позволят студентам, специализирующимся в области материаловедения, оценивать морфологию поверхности и свойства исследуемых образцов, а также модифицировать поверхность для получения заданных свойств. Доступ по логину и паролю |
| Published: |
Томск, TPU Moodle, 2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=2022 |
| Format: | Electronic Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=667367 |
MARC
| LEADER | 00000nlm0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 667367 | ||
| 005 | 20251124164030.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\network\38572 | ||
| 035 | |a RU\TPU\network\38563 | ||
| 090 | |a 667367 | ||
| 100 | |a 20220318d2017 m y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a a j 000zy | ||
| 135 | |a jrcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов |e электронный курс |f А. А. Панина |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Институт физики высоких технологий, Кафедра наноматериалов и нанотехнологий | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 210 | |c TPU Moodle |d 2017 |a Томск | ||
| 300 | |a Заглавие с экрана | ||
| 330 | |a Курс «Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов» посвящен изучение физических основ сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены наиболее применяемые виды СЗМ, такие как сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ). Особое внимание уделяется изучению устройства сканирующего зондового микроскопа и основным методикам работы на нем. Знания, полученные при изучении курса, позволят студентам, специализирующимся в области материаловедения, оценивать морфологию поверхности и свойства исследуемых образцов, а также модифицировать поверхность для получения заданных свойств. | ||
| 333 | |a Доступ по логину и паролю | ||
| 606 | 1 | |a Наноматериалы |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\65850 |9 82201 | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронное обучение | |
| 610 | 1 | |a электронные курсы ТПУ | |
| 610 | 1 | |a электронные учебные пособия | |
| 610 | 1 | |a сканирующая туннельная микроскопия | |
| 610 | 1 | |a атомно-силовая микроскопия | |
| 610 | 1 | |a зонды | |
| 610 | 1 | |a поверхности | |
| 610 | 1 | |a морфология | |
| 675 | |a 620.22(075.8) |v 4 | ||
| 700 | 1 | |a Панина |b А. А. |c физик |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук |f 1980- |g Александра Анатольевна |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34087 |9 17643 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет |c (2009- ) |9 26305 |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20220808 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=2022 | |
| 942 | |c CF | ||