APA aipamena

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа информационных технологий и робототехники, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Koval T. V. Tamara Vasilievna, Ryabchikov A. I. Aleksandr Ilyich, Shevelev A. E. Aleksey Eduardovich, . . . Tarakanov V. P. Vladimir Pavlovich. (2017). Formation of high intensity ion beams with ballistic focusing; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 927 : Applied Mathematics and Mechanics in the Aerospace Industry (AMMAI'2020). 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/927/1/012082

Chicago Style aipamena

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа информационных технологий и робототехники, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Koval T. V. Tamara Vasilievna, Ryabchikov A. I. Aleksandr Ilyich, Shevelev A. E. Aleksey Eduardovich, Chan My Kim An, and Tarakanov V. P. Vladimir Pavlovich. Formation of High Intensity Ion Beams with Ballistic Focusing; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 927 : Applied Mathematics and Mechanics in the Aerospace Industry (AMMAI'2020). 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/927/1/012082.

MLA aipamena

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа информационных технологий и робототехники, et al. Formation of High Intensity Ion Beams with Ballistic Focusing; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 927 : Applied Mathematics and Mechanics in the Aerospace Industry (AMMAI'2020). 2017, 2017. https://doi.org/10.1088/1742-6596/927/1/012082.

Kontuz: berrikusi erreferentzia hauek erabili aurretik.