Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, Gorobtsov O. Yu., Mukharamova N, Lazarev S. V. Sergey Vladimirovich, Chollet M, Zhu D, . . . Vartanyants I. A. (2018). Diffraction based Hanbury Brown and Twiss interferometry at a hard x-ray free-electron laser; Scientific Reports; Vol. 8. 2018. https://doi.org/10.1038/s41598-018-19793-1

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Diffraction Based Hanbury Brown and Twiss Interferometry at a Hard X-ray Free-electron Laser; Scientific Reports; Vol. 8. 2018, 2018. https://doi.org/10.1038/s41598-018-19793-1.

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Diffraction Based Hanbury Brown and Twiss Interferometry at a Hard X-ray Free-electron Laser; Scientific Reports; Vol. 8. 2018, 2018. https://doi.org/10.1038/s41598-018-19793-1.