Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, Banerjee D, Burtsev V. E. Vitaly Evgenjevich, Chumakov A. G. Aleksandr Grigorjevich, Cooke D. A. David, Levchenko E. A. Evgeny Anatolievich, . . . Vasilishin B. I. Bogdan Ivanovich. (2018). Performance of Multiplexed XY Resistive Micromegas detectors in a high intensity beam. 2018. https://doi.org/10.1016/j.nima.2017.10.067
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, et al. Performance of Multiplexed XY Resistive Micromegas Detectors in a High Intensity Beam. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.nima.2017.10.067.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, et al. Performance of Multiplexed XY Resistive Micromegas Detectors in a High Intensity Beam. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.nima.2017.10.067.