Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Vlasenko S. Svetlana, Benediktovitch A. I. Andrey Igorevich, Ulyanenkov A. P. Alexander, Uglov V. V. Vladimir Vasilievich, Abadias G. Gregory, . . . Janse Van Vuuren Arno. (2018). Microstructure Characterization of Multilayer Thin Coatings ZrN/Si3N4 by X-Ray Diffraction Using Noncoplanar Measurement Geometry. 2018. https://doi.org/10.1002/pssa.201700670
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Vlasenko S. Svetlana, Benediktovitch A. I. Andrey Igorevich, Ulyanenkov A. P. Alexander, Uglov V. V. Vladimir Vasilievich, Abadias G. Gregory, O'Connell J. H. Jacques Herman, and Janse Van Vuuren Arno. Microstructure Characterization of Multilayer Thin Coatings ZrN/Si3N4 by X-Ray Diffraction Using Noncoplanar Measurement Geometry. 2018, 2018. https://doi.org/10.1002/pssa.201700670.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Microstructure Characterization of Multilayer Thin Coatings ZrN/Si3N4 by X-Ray Diffraction Using Noncoplanar Measurement Geometry. 2018, 2018. https://doi.org/10.1002/pssa.201700670.