Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 1, электронный курс

Bibliographic Details
Main Author:	Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
Other Authors:	Сыпченко В. С. Владимир Сергеевич
Summary:	Заглавие с экрана Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор методов анализа, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о физических процессах, лежащих в основе методов анализа приповерхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, искровым разрядом, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго- и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон-электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и т.д.; Доступ по логину и паролю
Published:	Томск, TPU Moodle, 2018
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ электронные учебные пособия учебные пособия Moodle e-learning теоретические основы спектроскопия вакуум поверхность тонкие пленки изотопный состав химический состав структурный состав
Online Access:	https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=1798
Format:	Electronic Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=666839