Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 1: электронный курс

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Никитенков Н. Н. Николай Николаевич
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
Altres autors: Сыпченко В. С. Владимир Сергеевич
Sumari:Заглавие с экрана
Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор методов анализа, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о физических процессах, лежащих в основе методов анализа приповерхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, искровым разрядом, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго- и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон-электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и т.д.;
Доступ по логину и паролю
Idioma:rus
Publicat: Томск, TPU Moodle, 2018
Matèries:
Accés en línia:https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=1798
Format: Electrònic Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=666839

MARC

LEADER 00000nlm0a2200000 4500
001 666839
005 20240126092346.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\38043 
035 |a RU\TPU\network\26414 
090 |a 666839 
100 |a 20220131d2018 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 000zy 
135 |a jrcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики. Часть 1  |e электронный курс  |f Н. Н. Никитенков, В. С. Сыпченко  |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа ядерных технологий, Отделение экспериментальной физики 
203 |a Текст  |c электронный 
210 |a Томск  |c TPU Moodle  |d 2018 
300 |a Заглавие с экрана 
330 |a Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста, обладающего знаниями современного состояния теоретических основ и техники для исследования элементного, химического состава и структуры поверхности твердых тел. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор методов анализа, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о физических процессах, лежащих в основе методов анализа приповерхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, искровым разрядом, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго- и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон-электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и т.д.; 
333 |a Доступ по логину и паролю 
606 1 |a Поверхности твердых тел  |x Исследование  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\67662  |9 83383 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронные учебные пособия 
610 1 |a учебные пособия 
610 1 |a Moodle 
610 1 |a e-learning 
610 1 |a теоретические основы 
610 1 |a спектроскопия 
610 1 |a вакуум 
610 1 |a поверхность 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a изотопный состав 
610 1 |a химический состав 
610 1 |a структурный состав 
675 |a 539.211(075.8)  |v 4 
700 1 |a Никитенков  |b Н. Н.  |c российский физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1953-  |g Николай Николаевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\25364 
701 1 |a Сыпченко  |b В. С.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат наук  |f 1987-  |g Владимир Сергеевич  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28216  |9 13170 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа ядерных технологий  |b Отделение экспериментальной физики  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23549 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220131  |g RCR 
856 4 |u https://design.lms.tpu.ru/course/view.php?id=1798 
942 |c CF