The Multi-Angle Scanning Method Application for X-Ray and Electron Beams Profiles Measurement; Electron, Positron, Neutron and X–ray Scattering under External Influences

Detaylı Bibliyografya
Parent link:	Electron, Positron, Neutron and X–ray Scattering under External Influences.— 2021.— [P. 67]
Müşterek Yazar:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Diğer Yazarlar:	Stuchebrov S. G. Sergey Gennadevich, Bulavskaya A. A. Angelina Aleksandrovna, Grigorieva (Grigorjeva) A. A. Anna Anatoljevna, Miloichikova I. A. Irina Alekseevna
Özet:	Title screen
Dil:	İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi:	2021
Konular:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Online Erişim:	https://mega.nz/file/03xFxAzT#T3XlgNx10CZkFgX0jova9LUW6w3wQorXQ28dn5YNUOY
Materyal Türü:	Elektronik Kitap Bölümü
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=666647

Internet