Two-Dimensional Ray Mathematical Model of Mechanoelectric Transformations Method for Location of Macrodefects Identification in Solid Dielectric Structures; Вестник Карагандинского университета. Серия Физика; № 2 (98)

Dades bibliogràfiques
Parent link:Вестник Карагандинского университета. Серия Физика
№ 2 (98).— 2020.— [С. 32-42]
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников
Altres autors: Laas R. A. Roman Aleksandrovich, Khorsov P. N. Petr Nikolaevich, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Bespalko (Bespal'ko) A. A. Anatoly Alekseevich, Gyngazov A. S. Aleksandr Sergeevich, Karabekova D. Zh. Dana Zhilkibaevna, Khasenov A. K. Ayanbergen Kairbekovich
Sumari:Method of mechanoelectric transformations can be applied to determine both horizontal position and the depth of a defect in solid nonconductor samples. The method is based on phenomenon of electromagnetic emission in sources of mechanoelectric transformations, such as cracks, voids and impurities of sample structure. It has been shown that method can be used to evaluate integrated stress-strain state of solid dielectric materials. The method is also capable of finding defects is the sample volume, but the robust methodology has to be developed. To develop a methodology of the proper scanning process the experimental setup was created. This work represents ray model of this setup. The model allows us to research pulse characteristics of the response signal considering a variety of excitation signal parameters, defect locations and depths. The model includes dimensions of real sample. Pulse characteristics for response signals of single-period excitation waves with 100 kHz, 300 kHz, and 600 kHz frequencies were obtained. It is shown that increasing the frequency of excitation increases the accuracy of estimating the depth of macrodefects. Time-response characteristics of the signal are most informative.
Метод механоэлектрических преобразований может быть применен для определения как горизонтального положения, так и глубины дефекта в твердых непроводящих образцах. Он основан на явлении электромагнитного излучения в источниках механоэлектрических преобразований, таких как трещины, пустоты и примеси структуры образца. Показано, что указанный метод может быть использован для оценки интегрального напряженно-деформированного состояния твердых диэлектрических материалов. Кроме того, способен обнаруживать дефекты в объеме образца, однако необходимо разработать надежную методологию. Для разработки методологии правильного процесса сканирования была создана экспериментальная установка. Эта работа представляет лучевую модель этой установки. Модель позволяет исследовать импульсные характеристики ответного сигнала с учетом различных параметров сигнала возбуждения, местоположения дефектов и глубины. Включает в себя размеры реального образца. Получены импульсные характеристики для ответных сигналов однопериодических волн возбуждения с частотами 100, 300 и 600 кГц. Показано, что увеличение частоты возбуждения повышает точность оценки глубины макродефектов. Временные характеристики сигнала являются наиболее информативными.
Idioma:anglès
Publicat: 2020
Matèries:
Accés en línia:https://doi.org/10.31489/2020Ph2/32-42
Format: MixedMaterials Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=666501

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 666501
005 20250215175458.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\37705 
035 |a RU\TPU\network\36745 
090 |a 666501 
100 |a 20211228d2020 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a KZ 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Two-Dimensional Ray Mathematical Model of Mechanoelectric Transformations Method for Location of Macrodefects Identification in Solid Dielectric Structures  |d Двумерная лучевая математическая модель метода механоэлектрических преобразований для поиска местоположения макродефектов в твердых диэлектриках  |f R. A. Laas, P. N. Khorsov, A. P. Surzhikov [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
320 |a [Библиогр.: 24 назв.] 
330 |a Method of mechanoelectric transformations can be applied to determine both horizontal position and the depth of a defect in solid nonconductor samples. The method is based on phenomenon of electromagnetic emission in sources of mechanoelectric transformations, such as cracks, voids and impurities of sample structure. It has been shown that method can be used to evaluate integrated stress-strain state of solid dielectric materials. The method is also capable of finding defects is the sample volume, but the robust methodology has to be developed. To develop a methodology of the proper scanning process the experimental setup was created. This work represents ray model of this setup. The model allows us to research pulse characteristics of the response signal considering a variety of excitation signal parameters, defect locations and depths. The model includes dimensions of real sample. Pulse characteristics for response signals of single-period excitation waves with 100 kHz, 300 kHz, and 600 kHz frequencies were obtained. It is shown that increasing the frequency of excitation increases the accuracy of estimating the depth of macrodefects. Time-response characteristics of the signal are most informative. 
330 |a Метод механоэлектрических преобразований может быть применен для определения как горизонтального положения, так и глубины дефекта в твердых непроводящих образцах. Он основан на явлении электромагнитного излучения в источниках механоэлектрических преобразований, таких как трещины, пустоты и примеси структуры образца. Показано, что указанный метод может быть использован для оценки интегрального напряженно-деформированного состояния твердых диэлектрических материалов. Кроме того, способен обнаруживать дефекты в объеме образца, однако необходимо разработать надежную методологию. Для разработки методологии правильного процесса сканирования была создана экспериментальная установка. Эта работа представляет лучевую модель этой установки. Модель позволяет исследовать импульсные характеристики ответного сигнала с учетом различных параметров сигнала возбуждения, местоположения дефектов и глубины. Включает в себя размеры реального образца. Получены импульсные характеристики для ответных сигналов однопериодических волн возбуждения с частотами 100, 300 и 600 кГц. Показано, что увеличение частоты возбуждения повышает точность оценки глубины макродефектов. Временные характеристики сигнала являются наиболее информативными. 
338 |b Российский научный фонд  |d 19-19-00178 
461 |t Вестник Карагандинского университета. Серия Физика 
463 |t № 2 (98)  |v [С. 32-42]  |d 2020 
510 1 |a Двумерная лучевая математическая модель метода механоэлектрических преобразований для поиска местоположения макродефектов в твердых диэлектриках  |z rus 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a mechanoelectric transformations 
610 1 |a acoustic control 
610 1 |a nondestructive testing 
610 1 |a mathematical model 
610 1 |a solid dielectric structures 
610 1 |a defectoscopy 
610 1 |a response signal 
610 1 |a excitation wave 
610 1 |a акустический контроль 
610 1 |a механоэлектрические преобразования 
610 1 |a неразрушающий контроль 
610 1 |a математические модели 
610 1 |a дефектоскопия 
610 1 |a сигналы 
610 1 |a отклики 
610 1 |a диэлектрические структуры 
610 1 |a твердые структуры 
701 1 |a Laas  |b R. A.  |c Physicist  |c Assistant of the Department of Tomsk Polytechnic University  |f 1991-  |g Roman Aleksandrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\35139  |9 18414 
701 1 |a Khorsov  |b P. N.  |c specialist in the field of non-destructive testing  |c senior researcher of Tomsk Polytechnic University  |f 1986-  |g Petr Nikolaevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34578 
701 1 |a Surzhikov  |b A. P.  |c physicist  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, doctor of physical and mathematical sciences (DSc)  |f 1951-  |g Anatoly Petrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\30237  |9 14617 
701 1 |a Bespalko (Bespal'ko)  |b A. A.  |c physicist  |c Leading researcher of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences  |f 1948-  |g Anatoly Alekseevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32243 
701 1 |a Gyngazov  |b A. S.  |g Aleksandr Sergeevich 
701 1 |a Karabekova  |b D. Zh.  |g Dana Zhilkibaevna 
701 1 |a Khasenov  |b A. K.  |g Ayanbergen Kairbekovich 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Отделение контроля и диагностики  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23584 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Институт неразрушающего контроля  |b Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19033 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20211228  |g RCR 
856 4 0 |u https://doi.org/10.31489/2020Ph2/32-42 
942 |c CF