Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Shulgina Yu. V. Yulia Viktorovna, Shulgin E. M. Evgeny Mikhaylovich, Abouellail A. A. S. A. R. Ahmed Ali Sabri Ahmed Refaat, Kostina M. A. Maria Alekseevna, Terentjeva O. Yu. Oksana Yurjevna, & Chang Jianglei. (2021). Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap. 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Shulgina Yu. V. Yulia Viktorovna, Shulgin E. M. Evgeny Mikhaylovich, Abouellail A. A. S. A. R. Ahmed Ali Sabri Ahmed Refaat, Kostina M. A. Maria Alekseevna, Terentjeva O. Yu. Oksana Yurjevna, i Chang Jianglei. Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap. 2021, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, et al. Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap. 2021, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2.