Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Shulgina Yu. V. Yulia Viktorovna, Shulgin E. M. Evgeny Mikhaylovich, Abouellail A. A. S. A. R. Ahmed Ali Sabri Ahmed Refaat, Kostina M. A. Maria Alekseevna, Terentjeva O. Yu. Oksana Yurjevna, & Chang Jianglei. (2021). Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap.; Progress in Material Science and Engineering; Vol. 351 : Studies in Systems, Decision and Control (SSDC). 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Shulgina Yu. V. Yulia Viktorovna, Shulgin E. M. Evgeny Mikhaylovich, Abouellail A. A. S. A. R. Ahmed Ali Sabri Ahmed Refaat, Kostina M. A. Maria Alekseevna, Terentjeva O. Yu. Oksana Yurjevna, and Chang Jianglei. Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap.; Progress in Material Science and Engineering; Vol. 351 : Studies in Systems, Decision and Control (SSDC). 2021, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, et al. Application of Elliptical Properties in Building a Tomographic Image of an Inspected Object Using Multi-Element Ultrasonic Sensor Data: Chap.; Progress in Material Science and Engineering; Vol. 351 : Studies in Systems, Decision and Control (SSDC). 2021, 2021. https://doi.org/10.1007/978-3-030-68103-6_2.