Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Ulenekov O. N. Oleg Nikolaevich, Gromova O. V. Olga Vasilievna, Bekhtereva E. S. Elena Sergeevna, Raspopova N. I. Natalya Ivanovna, . . . Bauerekker Z. Kh. Zigurd Khermann. (2021). Line strengths, widths and shifts analysis of the 2v2, v2 + v4 and 2v4 bands in 28SiH4, 29SiH4 and 30SiH4; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 270. 2021. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2021.107683
Chicagoスタイル(17版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Line Strengths, Widths and Shifts Analysis of the 2v2, V2 + V4 and 2v4 Bands in 28SiH4, 29SiH4 and 30SiH4; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 270. 2021, 2021. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2021.107683.
MLA(9版)引用形式Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Line Strengths, Widths and Shifts Analysis of the 2v2, V2 + V4 and 2v4 Bands in 28SiH4, 29SiH4 and 30SiH4; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 270. 2021, 2021. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2021.107683.