Анализ и обработка изображений анодного оксида алюминия, полученных методом атомно-силовой микроскопии

Bibliografiske detaljer
Parent link:	Вестник Томского государственного университета. Химия/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 2015- № 19.— 2020.— [С. 14-20]
Hovedforfatter:	Гришанков А. А. Алексей Артурович
Institution som forfatter:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Andre forfattere:	Воронова Г. А. Гульнара Альфридовна
Summary:	Заглавие с экрана Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - уникальный метод, позволяющий увидеть и измерить структуру поверхности образца быстро, с высокими разрешением и точностью. За последние 20 с лишним лет своего существования метод АСМ открыл широкие возможности для всестороннего изучения морфологии и различных локальных свойств поверхности. Несомненные преимущества АСМ включают: 1) возможность проведения исследований в широком диапазоне температур на воздухе, в вакууме, в жидких и газообразных средах; 2) отсутствие ограничений, связанных с проводимостью образца; 3) возможность проведения прецизионных измерений топографии поверхности, перекрывающих по длине несколько порядков; 4) потенциал микроскопа как инструмента для локальной модификации поверхности. При разработке новых АСМ-методик часто приходится сталкиваться с рядом проблем: 1) проблема влияния на результаты измерений факторов различного происхождения (аппаратных или методических); 2) проблема интерпретации АСМ-изображений, полученных при разных режимах и в разных условиях; 3) проблема метрологического обеспечения АСМ-измерений, связанная с получением надежных количественных характеристик, позволяющих наиболее полно и адекватно описать свойства микрорельефа поверхности... Atomic force microscopy is a unique method that allows to see and measure the surface structure of a sample quickly, with high resolution and accuracy. Atomic force microscopy greatly simplifies the study of the surface of anodic aluminum oxide. Over the past 20 years of its existence the AFM method has opened wide opportunities for comprehensive study of morphology and different local properties of the surface. In this aspect, its undoubted advantages include: 1) the ability to conduct studies in a wide temperature range in air, in vacuum, in liquid and gaseous media; 2) the absence of limitations related to the conductivity of the sample; 3) the possibility of conducting precision measurements of surface topography, overlapping several orders of magnitude in length; 4) the potential of the microscope as a tool for local surface modification. When developing new AFM techniques, we often have to face a number of problems: 1) the problem of influence on measurement results of factors of very different origin (hardware or methodological); 2) the problem of interpretation of AFM images obtained in different modes and different conditions; 3) the problem of metrological support of AFM measurements, related to obtaining reliable quantitative characteristics, allowing the most complete and adequate description of surface microreliefproperties... Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Sprog:	russisk
Udgivet:	2020
Serier:	Синтез материалов
Fag:	электронный ресурс труды учёных ТПУ атомно-силовая микроскопия анодный оксид алюминия обработка асм-изображений артефакты асм-изображений
Online adgang:	https://elibrary.ru/item.asp?id=46351963
Format:	Electronisk Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=665146