Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Bespalko A. A. Anatoly Alekseevich, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Dann D. D. Denis Dmitrievich, Pomishin E. K. Evgeny Karlovich, & Petrov M. V. Maksim Vyacheslavovich. (2020). Acoustic-electric non-destructive method to detect defects in dielectric materials; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 1636 : Transformation of Non-Destructive Testing and Technical Diagnostics in the Era of Digitalization. Society Security in a Changing World. 2020. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1636/1/012026
Citação norma ChicagoНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Bespalko A. A. Anatoly Alekseevich, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Dann D. D. Denis Dmitrievich, Pomishin E. K. Evgeny Karlovich, and Petrov M. V. Maksim Vyacheslavovich. Acoustic-electric Non-destructive Method to Detect Defects in Dielectric Materials; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 1636 : Transformation of Non-Destructive Testing and Technical Diagnostics in the Era of Digitalization. Society Security in a Changing World. 2020, 2020. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1636/1/012026.
Citação norma MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников, et al. Acoustic-electric Non-destructive Method to Detect Defects in Dielectric Materials; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 1636 : Transformation of Non-Destructive Testing and Technical Diagnostics in the Era of Digitalization. Society Security in a Changing World. 2020, 2020. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1636/1/012026.