Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Ulenekov O. N. Oleg Nikolaevich, Bekhtereva E. S. Elena Sergeevna, Gromova O. V. Olga Vasilievna, Glushkov P. A. Petr Alekseevich, Shcherbakov A. P. Aleksandr Petrovich, . . . Bauerekker Z. Zigurd. (2018). Extended analysis of the high resolution FTIR spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the region of the bending fundamental band: The v2 and 2v2-v2 bands: Line positions, strengths, and pressure broadening widths; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 216. 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the Region of the Bending Fundamental Band: The V2 and 2v2-v2 Bands: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 216. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the Region of the Bending Fundamental Band: The V2 and 2v2-v2 Bands: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths; Journal of Quantitative Spectroscopy and Radiative Transfer; Vol. 216. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009.