Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Ulenekov O. N. Oleg Nikolaevich, Bekhtereva E. S. Elena Sergeevna, Gromova O. V. Olga Vasilievna, Glushkov P. A. Petr Alekseevich, Shcherbakov A. P. Aleksandr Petrovich, . . . Bauerekker Z. Zigurd. (2018). Extended analysis of the high resolution FTIR spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the region of the bending fundamental band: The v2 and 2v2-v2 bands: Line positions, strengths, and pressure broadening widths. 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009
Cita Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the Region of the Bending Fundamental Band: The V2 and 2v2-v2 Bands: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009.
Cita MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Extended Analysis of the High Resolution FTIR Spectra of H2MS (M=32,33,34,36) in the Region of the Bending Fundamental Band: The V2 and 2v2-v2 Bands: Line Positions, Strengths, and Pressure Broadening Widths. 2018, 2018. https://doi.org/10.1016/j.jqsrt.2018.05.009.