Structural Modification of Graphene on Copper Substrates Irradiated by Nanosecond High-Intensity Ion Beam

Structural Modification of Graphene on Copper Substrates Irradiated by Nanosecond High-Intensity Ion Beam

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:Russian Physics Journal
Vol. 61, No. 8.— 2018.— [P. 1443-1449]
Συλλογικό Έργο: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение русского языка, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий"
Άλλοι συγγραφείς: Poddubskaya O. G. Olesya Germanovna, Kuzhir P. P. Polina Pavlovna, Stepanov A. V. Andrey Vladimirovich, Martynenko A. A. Aleksandra Aleksandrovna, Remnev (Remnyov) G. E. Gennady Efimovich
Περίληψη:Title screen
Interaction of a nanosecond high-intensity pulsed ion beam with thin graphene films on copper substrates is analyzed. Methods of Raman spectroscopy are used to investigate the degree of graphene degradation depending on the integral implanted dose. The role of the substrate in the structural degradation of graphene irradiated by charged particle beams is demonstrated using the software package SRIM, intended for modeling radiative defect cascades under irradiation by charged particle beams, and the data on radiation resistance of graphene available in the literature.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: 2018
Θέματα:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
graphene
high-intensity ion beams
electromagnetic radiation
графены
ионные пучки
электромагнитные излучения
медные подложки
наносекундные пучки
Διαθέσιμο Online:https://doi.org/10.1007/s11182-018-1554-8
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=664468
Περιγραφή
Περίληψη:Title screen
Interaction of a nanosecond high-intensity pulsed ion beam with thin graphene films on copper substrates is analyzed. Methods of Raman spectroscopy are used to investigate the degree of graphene degradation depending on the integral implanted dose. The role of the substrate in the structural degradation of graphene irradiated by charged particle beams is demonstrated using the software package SRIM, intended for modeling radiative defect cascades under irradiation by charged particle beams, and the data on radiation resistance of graphene available in the literature.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
DOI:10.1007/s11182-018-1554-8

Παρόμοια τεκμήρια