Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий, Rodriguez Contreras R. D. Raul David, Khan Z. Zoheb, Ma Bing, Mukherjee A. Ashutosh, . . . Zahn D. R. T. Dietrich. (2019). Ion-Induced Defects in Graphite: A Combined Kelvin Probe and Raman Microscopy Investigation. 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900055
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, et al. Ion-Induced Defects in Graphite: A Combined Kelvin Probe and Raman Microscopy Investigation. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900055.
Citatione MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, et al. Ion-Induced Defects in Graphite: A Combined Kelvin Probe and Raman Microscopy Investigation. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900055.