Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Oleshko V. I. Vladimir Ivanovich, Tarasenko V. F. Victor Fedotovich, Burachenko A. G. Aleksandr Gennadjevich, & Nguyen Van Vu. (2019). Filamentation and Self-Focusing of Electron Beams in Vacuum and Gas Diodes; Technical Physics Letters; Vol. 45, No. 4. 2019. https://doi.org/10.1134/S1063785019040023
Cita Chicago Style (17a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Oleshko V. I. Vladimir Ivanovich, Tarasenko V. F. Victor Fedotovich, Burachenko A. G. Aleksandr Gennadjevich, y Nguyen Van Vu. Filamentation and Self-Focusing of Electron Beams in Vacuum and Gas Diodes; Technical Physics Letters; Vol. 45, No. 4. 2019, 2019. https://doi.org/10.1134/S1063785019040023.
Cita MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии, et al. Filamentation and Self-Focusing of Electron Beams in Vacuum and Gas Diodes; Technical Physics Letters; Vol. 45, No. 4. 2019, 2019. https://doi.org/10.1134/S1063785019040023.