Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий, Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Meszmer P. Peter, Blaudeck T. Thomas, Hartmann S. Susanne, . . . Zahn Dietrich R. T. (2019). Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, iss. 19. 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106
Citação norma ChicagoНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106.
Citação norma MLAНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106.