Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий, Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Meszmer P. Peter, Blaudeck T. Thomas, Hartmann S. Susanne, . . . Zahn Dietrich R. T. (2019). Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, iss. 19. 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106.
Citatione MLA (9a ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales; Physica Status Solidi A; Vol. 216, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1002/pssa.201900106.