Լեզու
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Նույնացուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Comparing the efficiency of de...
Գրեք սա
Գրեք սա:
Comparing the efficiency of defect depth characterization algorithms in the inspection of CFRP by using one-sided pulsed thermal NDT; Infrared Physics and Technology; Vol. 107
Թիվ:
Մատակարար:
Ընտրեք ձեր օպերատորը
Alltel
AT&T
Cricket
Nextel
Sprint
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile