Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа природных ресурсов Отделение нефтегазового дела, Chistyakov S. G. Sergey Gennadevich, Filatov N. A. Nikolay Alexandrovich, Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, . . . Rukavishnikov V. S. Valery Sergeevich. (2019). X-Ray Microtomography Using Compensation Filters with Complicated Form. 2019. https://doi.org/10.3103/S106833721904008X
Chicago-referens (17:e uppl.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа природных ресурсов Отделение нефтегазового дела, Chistyakov S. G. Sergey Gennadevich, Filatov N. A. Nikolay Alexandrovich, Kocharian V. R. Vagan Rashidovich, Gogolev A. S. Aleksey Sergeevich, och Rukavishnikov V. S. Valery Sergeevich. X-Ray Microtomography Using Compensation Filters with Complicated Form. 2019, 2019. https://doi.org/10.3103/S106833721904008X.
MLA-referens (9:e uppl.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. X-Ray Microtomography Using Compensation Filters with Complicated Form. 2019, 2019. https://doi.org/10.3103/S106833721904008X.