Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение ядерно-топливного цикла, Chernov V. I. Vladimir Ivanovich, Choynzonov E. L. Evgeny Lkhamatsyrenovich, Kulbakin D. E. Denis Evgenjevich, Obkhodskaya E. V. Elena Vladimirovna, Obkhodskiy A. V. Artem Viktorovich, . . . Sachkova A. S. Anna Sergeevna. (2020). Cancer Diagnosis by Neural Network Analysis of Data from Semiconductor Sensors; Diagnostics; Vol. 10, iss. 9. 2020. https://doi.org/10.3390/diagnostics10090677
Čikaški stil citiranja (17. izdanje)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение ядерно-топливного цикла, Chernov V. I. Vladimir Ivanovich, Choynzonov E. L. Evgeny Lkhamatsyrenovich, Kulbakin D. E. Denis Evgenjevich, Obkhodskaya E. V. Elena Vladimirovna, Obkhodskiy A. V. Artem Viktorovich, Popov A. S. Aleksandr Sergeevich, Sachkov V. I. Viktor Ivanovich, i Sachkova A. S. Anna Sergeevna. Cancer Diagnosis by Neural Network Analysis of Data from Semiconductor Sensors; Diagnostics; Vol. 10, Iss. 9. 2020, 2020. https://doi.org/10.3390/diagnostics10090677.
MLA način citiranja (9. izdanje)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение ядерно-топливного цикла, et al. Cancer Diagnosis by Neural Network Analysis of Data from Semiconductor Sensors; Diagnostics; Vol. 10, Iss. 9. 2020, 2020. https://doi.org/10.3390/diagnostics10090677.