Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Chulkov A. O. Arseniy Olegovich, Sfarra S. Stefano, Saeed N. Numan, Peeters J. Jeroen, & Vavilov V. P. Vladimir Platonovich. (2020). Evaluating quality of marquetries by applying active IR thermography and advanced signal processing. 2020. https://doi.org/10.1007/s10973-020-09326-2
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Chulkov A. O. Arseniy Olegovich, Sfarra S. Stefano, Saeed N. Numan, Peeters J. Jeroen, and Vavilov V. P. Vladimir Platonovich. Evaluating Quality of Marquetries by Applying Active IR Thermography and Advanced Signal Processing. 2020, 2020. https://doi.org/10.1007/s10973-020-09326-2.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", et al. Evaluating Quality of Marquetries by Applying Active IR Thermography and Advanced Signal Processing. 2020, 2020. https://doi.org/10.1007/s10973-020-09326-2.