Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, Makarov S. Sergey, Pikuz S. Sergey, Ryazantsev S. Sergey, Pikuz T. Tatiana, Buzmakov A. Alexey, . . . Viefhaus J. Jens. (2020). Soft X-ray diffraction patterns measured by a LiF detector with sub-micrometre resolution and an ultimate dynamic range; Journal of Synchrotron Radiation; Vol. 27, iss. 3. 2020. https://doi.org/10.1107/S1600577520002192
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Soft X-ray Diffraction Patterns Measured by a LiF Detector with Sub-micrometre Resolution and an Ultimate Dynamic Range; Journal of Synchrotron Radiation; Vol. 27, Iss. 3. 2020, 2020. https://doi.org/10.1107/S1600577520002192.
MLA引文Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Soft X-ray Diffraction Patterns Measured by a LiF Detector with Sub-micrometre Resolution and an Ultimate Dynamic Range; Journal of Synchrotron Radiation; Vol. 27, Iss. 3. 2020, 2020. https://doi.org/10.1107/S1600577520002192.