APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Moskovchenko A. I. Aleksey Igorevich, Vavilov V. P. Vladimir Platonovich, Svantner M. Michal, Muzika L. Lukas, & Houdkova S. (2020). Active IR Thermography Evaluation of Coating Thickness by Determining Apparent Thermal Effusivity; Materials; Vol. 13, iss. 8. 2020. https://doi.org/10.3390/ma13184057

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", Moskovchenko A. I. Aleksey Igorevich, Vavilov V. P. Vladimir Platonovich, Svantner M. Michal, Muzika L. Lukas, and Houdkova S. Active IR Thermography Evaluation of Coating Thickness by Determining Apparent Thermal Effusivity; Materials; Vol. 13, Iss. 8. 2020, 2020. https://doi.org/10.3390/ma13184057.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Центр промышленной томографии Научно-производственная лаборатория "Тепловой контроль", et al. Active IR Thermography Evaluation of Coating Thickness by Determining Apparent Thermal Effusivity; Materials; Vol. 13, Iss. 8. 2020, 2020. https://doi.org/10.3390/ma13184057.