Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий (ИШХБМТ), Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Kim L. R. Larisa Robertovna, Stepanishcheva D. I. Darjya Igorevna, Kolchuzhin V. A. Vladimir Anatoljevich, . . . Rodriguez Contreras R. D. Raul David. (2019). Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий (ИШХБМТ), Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Kim L. R. Larisa Robertovna, Stepanishcheva D. I. Darjya Igorevna, Kolchuzhin V. A. Vladimir Anatoljevich, Milekhin A. G. Aleksandr Germanovich, Zahn D. R. T. Dietrich, та Rodriguez Contreras R. D. Raul David. Localized Surface Curvature Artifacts in Tip-enhanced Nanospectroscopy Imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Localized Surface Curvature Artifacts in Tip-enhanced Nanospectroscopy Imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811.