Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий (ИШХБМТ), Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Kim L. R. Larisa Robertovna, Stepanishcheva D. I. Darjya Igorevna, Kolchuzhin V. A. Vladimir Anatoljevich, . . . Rodriguez Contreras R. D. Raul David. (2019). Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа химических и биомедицинских технологий (ИШХБМТ), Sheremet E. S. Evgeniya Sergeevna, Kim L. R. Larisa Robertovna, Stepanishcheva D. I. Darjya Igorevna, Kolchuzhin V. A. Vladimir Anatoljevich, Milekhin A. G. Aleksandr Germanovich, Zahn D. R. T. Dietrich, and Rodriguez Contreras R. D. Raul David. Localized Surface Curvature Artifacts in Tip-enhanced Nanospectroscopy Imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Localized Surface Curvature Artifacts in Tip-enhanced Nanospectroscopy Imaging; Ultramicroscopy; Vol. 206. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112811.