Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, & Шевелев М. В. Михаил Викторович. (2020). Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова. 2020.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, và Шевелев М. В. Михаил Викторович. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова. 2020, 2020.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова. 2020, 2020.