Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, & Шевелев М. В. Михаил Викторович. (2020). Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, i Шевелев М. В. Михаил Викторович. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020, 2020.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020, 2020.