Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, & Шевелев М. В. Михаил Викторович. (2020). Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020.
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Кафедра прикладной физики (№ 12) Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика", Алексеев Б. А. Борис Александрович, Вуколов А. В. Артем Владимирович, Потылицын А. П. Александр Петрович, and Шевелев М. В. Михаил Викторович. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020, 2020.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Диагностика расходимости электронного пучка по оптическомуизлучению Вавилова–Черенкова; Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра"; Т. 17, № 1. 2020, 2020.