Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий", Liang Guoying, Zhong Haowen, Zhang Shijian, Xu Mofei, Kuang Shicheng, & Remnev G. E. Gennady Efimovich. (2020). Molecular dynamics study of damage nearby silicon surface bombarded by energetic carbon ions; Surface and Coatings Technology; Vol. 385. 2020. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2020.125350
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий", Liang Guoying, Zhong Haowen, Zhang Shijian, Xu Mofei, Kuang Shicheng, και Remnev G. E. Gennady Efimovich. Molecular Dynamics Study of Damage Nearby Silicon Surface Bombarded by Energetic Carbon Ions; Surface and Coatings Technology; Vol. 385. 2020, 2020. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2020.125350.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий", et al. Molecular Dynamics Study of Damage Nearby Silicon Surface Bombarded by Energetic Carbon Ions; Surface and Coatings Technology; Vol. 385. 2020, 2020. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2020.125350.