Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, Lazarev S. V. Sergey Vladimirovich, Goransson D. J. O. David, Borgstrom M. T. Magnus, Messing M. E. Maria, Xu Hongqi, . . . Vartanyants I. A. Ivan. (2019). Revealing misfit dislocations in InAs x P1−x -InP core-shell nanowires by x-ray diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, iss. 50. 2019. https://doi.org/10.1088/1361-6528/ab40f1
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Revealing Misfit Dislocations in InAs X P1−x -InP Core-shell Nanowires by X-ray Diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, Iss. 50. 2019, 2019. https://doi.org/10.1088/1361-6528/ab40f1.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Revealing Misfit Dislocations in InAs X P1−x -InP Core-shell Nanowires by X-ray Diffraction; Nanotechnology; Vol. 30, Iss. 50. 2019, 2019. https://doi.org/10.1088/1361-6528/ab40f1.