High-temperature oxidation resistance of Ti-implanted E110 alloy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Vol. 597 : Prospects of Fundamental Sciences Development (PFSD-2019).— 2019.— [012059, 5 p.]
Συλλογικό Έργο: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Научная лаборатория высокоинтенсивной имплантации ионов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Άλλοι συγγραφείς: Kashkarov E. B. Egor Borisovich, Syrtanov M. S. Maksim Sergeevich, Shevelev A. E. Aleksey Eduardovich, Kurochkin A. V., Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich
Περίληψη:Title screen
This paper describes the effect of surface modification by high-intensity Ti-ion implantation on the high-temperature oxidation resistance of E110 zirconium alloy. The oxidation tests were performed in air at 873 K for 10 h and in water steam at 1373 K for 10 min. The microstructure, phase composition and depth distribution of elements were analysed using scanning electron microscopy, X-ray diffraction and glow-discharge optical emission spectroscopy, respectively.
Έκδοση: 2019
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://doi.org/10.1088/1757-899X/597/1/012059
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57219
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=661437
Περιγραφή
Περίληψη:Title screen
This paper describes the effect of surface modification by high-intensity Ti-ion implantation on the high-temperature oxidation resistance of E110 zirconium alloy. The oxidation tests were performed in air at 873 K for 10 h and in water steam at 1373 K for 10 min. The microstructure, phase composition and depth distribution of elements were analysed using scanning electron microscopy, X-ray diffraction and glow-discharge optical emission spectroscopy, respectively.
DOI:10.1088/1757-899X/597/1/012059