Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, Lazarev S. V. Sergey Vladimirovich, Schroth Ph. Philipp, Grigoriev D. D. Daniil, Riotte M, Slobodskyy T. Taras, . . . Baumbach T. Tilo. (2019). Role of the strained substrate in the x-ray diffraction of free-standing epitaxial nanostructures under grazing incidence conditions; Physical Review B; Vol. 99, iss. 19. 2019. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.99.195432
Citace podle Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Role of the Strained Substrate in the X-ray Diffraction of Free-standing Epitaxial Nanostructures Under Grazing Incidence Conditions; Physical Review B; Vol. 99, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.99.195432.
Citace podle MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Международная научно-образовательная лаборатория неразрушающего контроля, et al. Role of the Strained Substrate in the X-ray Diffraction of Free-standing Epitaxial Nanostructures Under Grazing Incidence Conditions; Physical Review B; Vol. 99, Iss. 19. 2019, 2019. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.99.195432.