Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Лабецкая Н. А. Наталья Анатольевна, Дацко И. М. Игорь Михайлович, Рыбка Д. В. Дмитрий Владимирович, . . . Ратахин Н. А. Николай Александрович. (2019). Особенности электрического взрыва плоских проводников в режиме скинирования тока. 2019.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Чайковский С. А. Станислав Анатольевич, Орешкин В. И. Владимир Иванович, Лабецкая Н. А. Наталья Анатольевна, Дацко И. М. Игорь Михайлович, Рыбка Д. В. Дмитрий Владимирович, Ванькевич В. А. Владислав Алексеевич, und Ратахин Н. А. Николай Александрович. Особенности электрического взрыва плоских проводников в режиме скинирования тока. 2019, 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Особенности электрического взрыва плоских проводников в режиме скинирования тока. 2019, 2019.