Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Udod V. A. Viktor Anatolievich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, & Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. (2020). Estimation of the effective mass thickness and effective atomic number of the test object material by the dual energy method. 2020. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.108543
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Udod V. A. Viktor Anatolievich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, und Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. Estimation of the Effective Mass Thickness and Effective Atomic Number of the Test Object Material by the Dual Energy Method. 2020, 2020. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.108543.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, et al. Estimation of the Effective Mass Thickness and Effective Atomic Number of the Test Object Material by the Dual Energy Method. 2020, 2020. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.108543.