Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Rogachev A. A., Yarmolenko M. A., Rogachev A. V., Jiang Xiaohong, Hongtao Cao, . . . Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich. (2019). Structure and electrical properties of polyaniline-based copper chloride or copper bromide coatings deposited via low-energy electron beam. 2019. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.03.159
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Rogachev A. A., Yarmolenko M. A., Rogachev A. V., Jiang Xiaohong, Hongtao Cao, Lysenko E. N. Elena Nikolaevna, and Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich. Structure and Electrical Properties of Polyaniline-based Copper Chloride or Copper Bromide Coatings Deposited via Low-energy Electron Beam. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.03.159.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Structure and Electrical Properties of Polyaniline-based Copper Chloride or Copper Bromide Coatings Deposited via Low-energy Electron Beam. 2019, 2019. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.03.159.