Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Чистая вода", Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Kairalapov D. Daniyar, & Osipov O. S. Oleg Sergeevich. (2019). The Mathematical Model of the Broadband Transmission X-Ray Thickness Gauge. 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.210
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Чистая вода", Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Kairalapov D. Daniyar, e Osipov O. S. Oleg Sergeevich. The Mathematical Model of the Broadband Transmission X-Ray Thickness Gauge. 2019, 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.210.
Citação MLA (9ª ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Институт неразрушающего контроля Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра, et al. The Mathematical Model of the Broadband Transmission X-Ray Thickness Gauge. 2019, 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.210.