Språk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
ISBN/ISSN
Tagg
Identifier
Sök
Avancerad
Numerical study of atomic scal...
Textmeddelande
Textmeddelande:
Numerical study of atomic scale deformation mechanisms of Ti grains with different crystallographic orientation subjected to scratch testing; Applied Surface Science; Vol. 471
Nummer:
Leverantör:
Välj operatör
Alltel
AT&T
Cricket
Nextel
Sprint
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile