Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Nazhmudinov R. M. Ramazan Magomedshapievich, Kubankin A. S. Aleksandr Sergeevich, Karataev P. V. Pavel Vladimirovich, Kishin I. A., . . . Nasonova V. A. (2018). A multi-wirescanner test setup utilizing characteristic X-rays for charged particle and photon beam diagnostics; Journal of Instrumentation; Vol. 13, iss. December 2018. 2018. https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/P12012
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. A Multi-wirescanner Test Setup Utilizing Characteristic X-rays for Charged Particle and Photon Beam Diagnostics; Journal of Instrumentation; Vol. 13, Iss. December 2018. 2018, 2018. https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/P12012.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Физико-технический институт (ФТИ) Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), et al. A Multi-wirescanner Test Setup Utilizing Characteristic X-rays for Charged Particle and Photon Beam Diagnostics; Journal of Instrumentation; Vol. 13, Iss. December 2018. 2018, 2018. https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/P12012.