Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, & Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. (2018). Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, iss. 11. 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, and Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, Iss. 11. 2018, 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), et al. Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, Iss. 11. 2018, 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074.