Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, & Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. (2018). Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, iss. 11. 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), Osipov S. P. Sergey Pavlovich, Usachev E. Yu. Evgeny Yurjevich, Chakhlov S. V. Sergey Vladimirovich, Shchetinkin S. A. Sergey Aleksandrovich, и Kamysheva E. N. Ekaterina Nikolaevna. Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, Iss. 11. 2018, 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074.
Цитирование MLA (9-е изд.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Российско-китайская научная лаборатория радиационного контроля и досмотра (РКНЛ РКД), et al. Selecting Parameters of Detectors When Recognizing Materials Based on the Separation of Soft and Hard X-Ray Components; Russian Journal of Nondestructive Testing; Vol. 54, Iss. 11. 2018, 2018. https://doi.org/10.1134/S1061830918110074.