20th International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE): proceedings, Tomsk, Russia, September 16-22, 2018

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: National Research Tomsk Polytechnic University (TPU), Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE)
সংক্ষিপ্ত:Title screen
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: [S. l.], IEEE, 2018
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=8496739
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থ
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=659342

MARC

LEADER 00000nlm0a2200000 4500
001 659342
005 20231102030327.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\27883 
090 |a 659342 
100 |a 20190212a2018 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
105 |a a z 100zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a 20th International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE)  |e proceedings, Tomsk, Russia, September 16-22, 2018  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 
203 |a Text  |c electronic 
210 |a [S. l.]  |c IEEE  |d 2018 
300 |a Title screen 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
606 1 |a Электроника  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20310  |9 45419 
610 1 |a конференции 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a сильноточная электроника 
610 1 |a численное моделирование 
610 1 |a ионные пучки 
610 1 |a высокоэнергетические частицы 
610 1 |a плазменные источники 
610 1 |a электромагнитные волны 
610 1 |a излучение 
675 |a 621.38(063)  |v 4 
712 0 2 |a National Research Tomsk Polytechnic University (TPU)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18773 
712 0 2 |a Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\14353 
712 1 2 |a International Symposium on High-Current Electronics (ISHCE)  |c Symposium  |d 20  |e Tomsk  |f 2018 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191218  |g RCR 
856 4 |u https://ieeexplore.ieee.org/xpl/mostRecentIssue.jsp?punumber=8496739 
942 |c CF