APA (7th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП), Khorsov P. N. Petr Nikolaevich, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Laas R. A. Roman Aleksandrovich, & Surzhikov V. P. Vladimir Petrovich. (2018). Possibility of Evaluating a Depth of Defects as a Hole in a Composite Dielectric Sample by the Parameters of Electric Response to Pulse Mechanical Excitation. 2018. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.781.155

Chicago Style (17th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП), Khorsov P. N. Petr Nikolaevich, Surzhikov A. P. Anatoly Petrovich, Laas R. A. Roman Aleksandrovich, and Surzhikov V. P. Vladimir Petrovich. Possibility of Evaluating a Depth of Defects as a Hole in a Composite Dielectric Sample by the Parameters of Electric Response to Pulse Mechanical Excitation. 2018, 2018. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.781.155.

MLA (9th ed.) Citation

Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) Институт неразрушающего контроля (ИНК) Проблемная научно-исследовательская лаборатория электроники, диэлектриков и полупроводников (ПНИЛ ЭДиП), et al. Possibility of Evaluating a Depth of Defects as a Hole in a Composite Dielectric Sample by the Parameters of Electric Response to Pulse Mechanical Excitation. 2018, 2018. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.781.155.