MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 65833
005 20231101212227.0
010 |a 5876230960 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\69881 
090 |a 65833 
100 |a 20040701d2002 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Рентгенографический и электронно-оптический анализ  |e учебное пособие  |f С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев 
205 |a 4-е изд., перераб. и доп. 
210 |a Москва  |c МИСиС  |d 2002 
215 |a 358 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 357-358. 
451 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\77583  |y 5-87623-001-4  |t Рентгенографический и электронно-оптический анализ  |o учебное пособие  |f С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев  |e 3-е изд., перераб. и доп.  |c М.  |n МИСиС  |d 1994  |p 327 с.  |a Горелик, Семен Самуилович 
606 1 |a Металлы  |x Рентгеноспектральный анализ  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43045  |9 62632 
610 1 |a металлургия 
610 1 |a рентгеновская техника 
610 1 |a безопасность 
610 1 |a рентгенограммы 
610 1 |a получение 
610 1 |a расчет 
610 1 |a поликристаллы 
610 1 |a монокристаллы 
610 1 |a фазовый анализ 
610 1 |a кристаллическая структура 
610 1 |a текстура 
610 1 |a рентгенографический анализ 
610 1 |a поликристаллические пленки 
610 1 |a тонкие поверхностные слои 
610 1 |a электронография 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a микродифракция 
610 1 |a спектральный анализ 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 669:539.2(075.8)  |v 3 
700 1 |a Горелик  |b С. С.  |g Семен Самуилович 
701 1 |a Скаков  |b Ю. А.  |g Юрий Александрович 
701 1 |a Расторгуев  |b Л. Н.  |g Леонид Николаевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20040701  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20201103  |g PSBO 
900 |a Рентгеновские методы анализа 
900 |a Методы исследования материалов и процессов 
900 |a Современные методы структурного анализа в материаловедении 
942 |c BK 
951 |a 550500  |b 110000 
959 |a 176/20041221  |d 10  |e 0  |f НФ:10 
959 |a 58/20050701  |d 5  |e 0  |f НФ:5