Количественный фазовый анализ высоко-кремнеземистых материалов после плазменной обработки; Известия вузов. Физика; Т. 61, № 2

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Parent link:	Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957- Т. 61, № 2.— 2018.— [С. 54-59]
Κύριος συγγραφέας:	Космачев П. В. Павел Владимирович
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение ядерно-топливного цикла
Άλλοι συγγραφείς:	Абзаев Ю. В. Юрий Афанасьевич, Власов В. А. Виктор Алексеевич
Περίληψη:	Заглавие с экрана Методами рентгеноструктурного анализа исследовалась структура оксидов SiO2 двух состояний (кварцит, кварцевый песок) до и после плазменной обработки. Под действием плазмы сырье плавилось и испарялось в газообразную фазу, после чего проходило стадию закалки с конденсацией в виде наночастиц. Идентификация и уточнение структурных параметров решеток фаз осуществлялась методом Ритвельда. Обнаружено, что после плазменной обработки оксиды SiO2 находились в аморфизированном состоянии. Моделирование аморфного состояния SiO2 осуществлялось в рамках микроканонического ансамбля. Было показано, что аморфные фазы оказываются стабильными и с высокой степенью сходимости модельные интенсивности отраженного излучения аппроксимируют экспериментальные дифрактограммы. В рамках моделирования для кристаллических и аморфных фаз оксидов SiO2 установлена полная структурная информация: определены координаты атомов, параметры структуры и заселенность узлов атомами кремния и кислорода. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Γλώσσα:	Ρωσικά
Έκδοση:	2018
Θέματα:	труды учёных ТПУ электронный ресурс кристаллическое строение параметры решетка количественный анализ аморфное состояние
Διαθέσιμο Online:	https://elibrary.ru/item.asp?id=32490004
Μορφή:	Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=658007