Количественный фазовый анализ высоко-кремнеземистых материалов после плазменной обработки; Известия вузов. Физика; Т. 61, № 2
| Parent link: | Известия вузов. Физика: научный журнал/ Национальный исследовательский Томский государственный университет (ТГУ).— , 1957- Т. 61, № 2.— 2018.— [С. 54-59] |
|---|---|
| 主要作者: | |
| 企業作者: | |
| 其他作者: | , |
| 總結: | Заглавие с экрана Методами рентгеноструктурного анализа исследовалась структура оксидов SiO2 двух состояний (кварцит, кварцевый песок) до и после плазменной обработки. Под действием плазмы сырье плавилось и испарялось в газообразную фазу, после чего проходило стадию закалки с конденсацией в виде наночастиц. Идентификация и уточнение структурных параметров решеток фаз осуществлялась методом Ритвельда. Обнаружено, что после плазменной обработки оксиды SiO2 находились в аморфизированном состоянии. Моделирование аморфного состояния SiO2 осуществлялось в рамках микроканонического ансамбля. Было показано, что аморфные фазы оказываются стабильными и с высокой степенью сходимости модельные интенсивности отраженного излучения аппроксимируют экспериментальные дифрактограммы. В рамках моделирования для кристаллических и аморфных фаз оксидов SiO2 установлена полная структурная информация: определены координаты атомов, параметры структуры и заселенность узлов атомами кремния и кислорода. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
| 語言: | 俄语 |
| 出版: |
2018
|
| 主題: | |
| 在線閱讀: | https://elibrary.ru/item.asp?id=32490004 |
| 格式: | 電子 Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=658007 |
| 總結: | Заглавие с экрана Методами рентгеноструктурного анализа исследовалась структура оксидов SiO2 двух состояний (кварцит, кварцевый песок) до и после плазменной обработки. Под действием плазмы сырье плавилось и испарялось в газообразную фазу, после чего проходило стадию закалки с конденсацией в виде наночастиц. Идентификация и уточнение структурных параметров решеток фаз осуществлялась методом Ритвельда. Обнаружено, что после плазменной обработки оксиды SiO2 находились в аморфизированном состоянии. Моделирование аморфного состояния SiO2 осуществлялось в рамках микроканонического ансамбля. Было показано, что аморфные фазы оказываются стабильными и с высокой степенью сходимости модельные интенсивности отраженного излучения аппроксимируют экспериментальные дифрактограммы. В рамках моделирования для кристаллических и аморфных фаз оксидов SiO2 установлена полная структурная информация: определены координаты атомов, параметры структуры и заселенность узлов атомами кремния и кислорода. Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса |
|---|